CATEGORY / 检漏仪

中国真空学会质谱与检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会真空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C]

  王延青;;尺度漏孔校准安拆[A];华东三省一市第三届实空学术论文集[C];2000年

  费渭南;;国内实空漏率的比对工做[A];中国实空学会质谱取检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会实空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C];2001年

  朱为;堵国梁;史小军;毛福明;;实空夹杂漏孔示漏气体的延迟和连结特征研究[A];江苏省实空学会第十届学术论文集[C];2002年

  李明蓬;;《谈谈检漏手艺根本理论进修的主要性》(讲话提纲)[A];中国实空学会质谱取检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会实空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C];2001年

  李明蓬;;泄露机理取检漏设想[A];第二届全国实空检漏手艺工业使用研讨会论文集[C];2000年

  吴孝俭;杨智涵;李明蓬;;对氦质谱检漏漏率测定的一些见地[A];中国实空学会质谱取检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会实空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C];2001年

  陈庆林;;管板式换热容器漏孔特征及其检测[A];中国实空学会质谱取检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会实空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C];2001年

  张彩兰;;惯性元件实空检漏手艺之我见[A];第二届全国实空检漏手艺工业使用研讨会论文集[C];2000年

  杨智涵;;氦质谱正压检漏的定量性检测[A];中国实空学会质谱取检漏专委会第十届年会及中国计量测试学会实空校准专委会第五届年会论文(摘要)集[C];2001年

2015 文章编号:2095-4980(15)06-1009-05 电子元器件密封试验的切磋与真

  太赫兹科学取电子消息学报Vo1.13,No.6 2015 TerahertzScience ElectronicInformation Technology Dec.,2015 文章编号:2095-4980(2015)06-1009-05 电子元器件密封试验的切磋取实践 (中国工程物理研究院计量测试核心,四川 绵阳 621999) 要:电子元器件是军工电子产物中的主要构成部门,元器件质量的黑白间接影响到各类配备的质量且对各产物的靠得住性有较大影响。密封机能是密封电子元器件质量黑白的主要标记。 本文引见了电子元器件性物理阐发密封试验中方式的使用、实践,总结了细检漏和粗检漏试 验中应留意的问题及应对办法,从而更无效地剔除有密封缺陷的元器件,检测成果的精确性。 环节词:密封;细检漏;粗检漏 中图分类号:TN386.1 文献标识码:A doi:10.11805/TKYDA201506.1009 Seal test electroniccomponents DestructivePhysical Analysis LIANG Qian,WANG Shujie,GONG Guohu (Metrology TestingCenter,China Academy EngineeringPhysics,Mianyang Sichuan 621999,China) Abstract:Electronic components importantpart militaryelectronics products, whose quality directlyaffect varioustypes greatimpact products.Sealing performance importantindex sealedelectronic components. sealtest method DestructivePhysical Analysis(DPA) electroniccomponents problemswhich should paidattention fineleak detection crudeleak test concluded.Key words:seal;fine leak test;gross leak test 密封是流体(气体、液体)介质通过布局裂缝、空穴、孔洞从一个部位流向另一个部位及渗漏到密封布局 之外的办法 。对密封电子元器件而言,密封机能黑白至关主要。若是密封机能欠好,密封电子元器件抵御外部侵蚀的能力就差,正在具有较高温湿度变化和无害气体的中会构成呼吸感化,使元器件内部的金属丝或镀 敷金属层发生电解侵蚀而损坏,形成电参数改变、机能降低或间接功能。过高的内部水汽正在低温时会形成继 电器正在触点发生冷焊现象使其功能。元器件正在拆机利用前要进行 次筛选,即元器件出产厂家正在元器件出厂前进行一次筛选,利用厂家按照需要有针对性地进行二次筛选 。正在电子元器件性物理阐发工做中,几乎所有器件出产单元都把密封细检漏做为筛选试验项目百分之百地进行查验 ,电子元器件密封试验的目标就是确定具有空腔的电子元器件和其他具有密封要求的电子部件的密封机能。 电子元器件性物理阐发密封试验方式根据电子元器件性物理阐发密封试验根据的尺度次要有 GJB128A-1997《半导体分立器件试验方式》方式 1027 、GJB548B-2005《微电子器件试验方式和法式》方式1014.2 、GJB360B-2009《电子及电气元件试验方式》方式 112 、GJB65B-1999《有靠得住性目标的电磁继电器总规范》中4.8.5 的检漏方式 。密封试验包罗细检漏试验和粗检漏试验,细检漏次要利用示踪气体氦检漏,粗检漏次要利用氟碳化合物检漏 细检漏试验2.1 细检漏试验道理和过程 细检漏的试验过程次要分 个步调:对被检元器件施压(充压)、净化和细检漏。收稿日期:2014-10-15;修回日期:2014-12-12 1010 太赫兹科学取电子消息学报 第13 对被检元器件施压(充压)起首将元器件放入能施压的密封容器中,用氦气对被检测元器件必然气压并正在容器内存放一段时间,正在 高压感化下若是元器件有漏孔,所的气就会顺漏孔进入到被检件内腔里,元器件中的内腔就构成了必然的氦 气压力,然后取出。 净化因为被检元器件是由分歧品种的材料封拆和分歧布局构成,会有概况吸附现象和假空腔藏匿氦气,形成测试 ,因而应将元器件从施压密封容器中取出后用干噪的氮气或干燥空气吹除概况吸附或藏匿的氦气。 细检漏将净化后的元器件放入实空室,使实空室和和氦质谱检漏仪相连,事后对实空室抽实空,然后用阀门节制导 入检漏仪进行检漏,若是被检元器件有漏,则压入元器件内部的示踪气体氦气会通过漏孔逸出进入检漏仪,从而 获得丈量漏率 R。标中固定法要求正在时间内将所加压充氦的元器件全数检测完。 2.2 细检漏试验方式的拒收前提 细检漏试验方式正在标中给出了固定法和矫捷法 种,两者具有分歧的拒收前提。2.2.1 固定法拒收前提 固定法是按照分歧器件的内腔体积,加压的前提和氦质谱检漏时的氦丈量漏率的极限值,若是丈量漏率 大于的丈量漏率极限值,则拒收。GJB548B-2005 方式 1014.2 固定法细检漏前提和拒收前提如表 所示。2.2.2 矫捷法拒收前提 矫捷法是对应分歧元器件内腔体积 给出尺度漏气率L(空气)做为拒收规范值,而 矫捷控制,将选定的加压参数、被试验器件的内腔体积和等效尺度漏率 为绝对大气压力(Pa);M 为空气量(为28.7 压力后到检漏之间的搁浅时间(s);V为被试器件封拆的内腔体积(cm 就越高;相反的充氦压力 越低,加压时间越短,内腔体积 越大,则正在元器件内腔所发生的氦分压就越低,检漏 时所检测到的丈量漏率 就越小;别的待检时间越长,从漏孔中逃逸 出的氦气就越多,比及检漏时所测 得的丈量漏率就越小。这些要素都 会间接影响检漏的成果。 2.2.3 固定法和矫捷法比力 为比力表 ,按照式(1),用数pressure conditions pressure/kPapressure time/h longesttime/h R1 standardvalue rejection/(Pacm -1)(He) V

c3图412战3样品正在氛围中干燥30s后 Fig4Desiccatingthe12and3spec

  粗检漏试验尺度问题的研究及宋玉玺李巍国度半导体器件质量监视查验核心050051摘要:有些外形较小或内腔腔体体积较小而且检漏及格的电子产物进行 水汽含量测按时有时会呈现样品水汽含量超标现象。为证明现行国度尺度中粗检漏 试验方式高温氟油加压检漏对产物呈现误判的问题通过一系列试验和研究证明 了外形较小或内腔腔体体积较小存正在漏孔的电子产物严酷按照现行的粗检漏试验方 法中的样品正在空气中干燥无效时间21min内进行试验试验获得了多种成果进而 对产物构成误判为此对尺度中的该试验方式提出了一些新的。环节词:粗检漏干 燥时间尺度水汽含量误判中图分类号:TN407文献标识码:A文章编 号llusiontothis problemseveralsuggestionswereputforward.Keywords:grossleaktestdesiccatetimestandard moisturecontentmiscarriageofjusticeEEACC:0170L0引言对于有气密性要求的电子产 品密封不良将会形成产物的漏气、漏液降低其靠得住性有时还会形成其本身及附近产 品的侵蚀现象以至使产物、全数功能。而这些问题的发生凡是是由产物设 计和工艺上的亏弱环节形成的。因为利用前提分歧对产物的密封要求也分歧对此国 家制定了相关的试验尺度。正在现行的检漏方式中最常用的以氦质谱检漏和高温氟油 加压检漏为从。正在GJB128A方式1071、GJB548A方式1014A、GJB548B方式10141、 GJB360A方式112等尺度中均给出了细致的申明。而正在现实操做中发觉现行的粗检漏 试验方式氟油加压高温液体法1容易对试验成果形成误判。本文就此问题进行了一系 列试验对尺度中的试验方式提出了一些新的见地。1试验法式将被检器件放正在加压容 器中容器密闭后先抽实空使容器内部气压降到低于07kPa至多连结封拆、测试取设备 PackageTestandEquipmentdoi:103969/jissn1003-353x201011013November2010Semico nductorTechnologyVol35No11109930min。正在线min后的前提下注入脚 够量的低沸点氟油轻氟油覆没被检器件。并用N2对其加压必然时间压力和时间按有 关尺度施行。加压竣事后对加压容器迟缓卸压卸压时间要大于20s。取出被检器件正在 空气中至多干燥21min然后浸入1255的高沸点氟油沉氟油中。器件顶部距液面高度 应大于50cm。察看时间要大于30s。若发觉被检器件从统一有一串较着的小气 泡或两个以上的大气泡冒出2-3则判为器件不及格。2试验道理因为低沸点氟油轻氟 油较小即便很小的漏孔也能通过。若器件有漏孔存正在加压时低沸点氟油正在压力 下进入器件内部因为低沸点氟油沸点温度约为47正在放入温度为125的高沸点氟油中 时低沸点氟油敏捷气化使元器件内腔压力敏捷添加。内腔气体就会从漏孔中冒出从 而正在高沸点氟油中表示为有气泡冒出。3粗检漏试验成果会发生误判按尺度要求对所 有样品正在放入高沸点氟油中之前要正在空气中放置21min如许会使一些器件概况的轻 氟油敏捷挥发掉避免对试验成果形成误判。但假设正在产物腔体很小的环境下而且产 品存正在较大的漏孔若是产物正在空气中干燥1min后进入产物腔体内的轻氟油曾经全 部挥发掉了这时再将其放入沉氟油中察看是不成能察看到气泡的。同样正在产物腔体 很小的环境下产物漏孔较小进入产物腔体的轻氟油的量也很小这些少量的轻氟油如 果曾经正在3min后全数挥发掉了这时再将其放入沉氟油中察看也是不成能察看到气 泡的。这两种可能存正在就会对很多产物呈现错判。4试验过程取3只体积小于005cm3 的样品正在轻氟油中加压517kPa保压时间2h。从轻氟油中取出后正在空气平分别干燥 123min后放入温度为125的沉氟油中。试验成果如图13所示。由图13能够看出检漏 时间都正在尺度答应范畴内3只样品正在空气中都干燥1min检漏成果如下:1、2样品不合 格3样品及格样品正在空气平分别干燥2min和3min检漏成果如下:1、2和3样品都及格。 3只样品均正在尺度要求的范畴内进行试验而试验成果却明显分歧。c干燥3min图11样 品正在空气中干燥12和3minFig1Desiccatingthe1specimenfor12and3minintheairc干燥 3min图22样品正在空气中干燥12和 3minFig2Desiccatingthe2specimenfor12and3minintheair宋玉玺等:粗检漏试验尺度问 题的研究及1100半导体手艺第35卷第11期2010年11月c?稍?min图33样品正在空气 中干燥12和3minFig3Desiccatingthe3specimenfor12and3minintheair可见样品正在空气中 干燥时间越长对样品检漏成果影响越大。将3只样品正在空气中干燥时间小于1min考 虑到样品概况可能吸附轻氟油将3只样品正在空气中干燥30s后得出的具体成果如图4 所示。c3图412和3样品正在空气中干燥30s后 Fig4Desiccatingthe12and3specimenfor30sintheair3只样品正在空气中都干燥30s检漏成果 为12和3样品均有气泡冒出3只样品都不及格。由以上试验成果能够看出样品正在空气 中干燥的时间分歧试验的成果亦不不异。为证明成果能否准确进行如下试验。将13 样品没入红墨水溶液加压517kPa连结2h。从红墨水溶液中取出后对样品进行开帽目 检。其内部照片如图5所示。c3图512和3样品有红墨水踪迹的图片 Fig5Photosof12and3specimenwithredinkmark由图5可知3只样品内部均有红墨水的痕 迹红墨水溶液正在压力的环境下通过漏孔进入了样品腔体内部因而能够断定3只样品 均存正在漏孔从而证明3只样品都是漏气的。可见样品正在空气中干燥小于1min的环境 下得出的成果是准确的而按尺度要求的正在空气中干燥13min后得出的成果却呈现了 误判。5结语通过上述试验过程可知3只本来都漏气的体积很小的样品因为正在尺度中 的正在空气中干燥时间的问题而发生了分歧的试验成果。所以对国度尺度粗 检漏试验方式中样品正在空气中的干燥时间的尺度做恰当点窜按照样品腔体大小和样 品体积的大小来进行相对节制。参考文献:1吴孝俭闫荣鑫.泄露检测M.:机械工业 出书社2005:151-175.2GJB128A97半导体分立器件试验方式S.:国防科工委军标 出书刊行部1997.3GJB548A96微电子器件试验方式和法式S.:国防科工委军标出 版刊行部1997.收稿日期:2010-08-09做者简介:宋玉玺1979汉子帮理工程师 现处置半导体元器件检测及性物理阐发工做。宋玉玺等:粗检漏试验尺度问题的 研究及November2010SemiconductorTechnologyVol35No111101

  粗检漏试验尺度问题的研究及尺度,问题,研究,粗检漏试验,检漏试验,问题的切磋,检漏仪,电火花检漏,卤素检漏仪,实空检漏

是真空检漏手艺中活络度最高

  正在质谱室内有:由灯丝、离化室、离子加快极构成离子源;由外加平均、挡板及出口裂缝构成阐发器;由栅、收集极及高阻构成收集器;第一级放大静电计管和冷阴极电离规。质谱室的工做道理如图3所示。

  氦质谱检漏仪是磁偏转型的质谱阐发计。单级磁偏转型仪器活络度为lO-9~10-12Pam3/s,普遍地用于各类实空系统及零部件的检漏。双级磁偏转型仪器取单级磁偏转型仪器比拟较,本底噪声显著减小.其活络度可达10-14~10-15Pam3/s,合用于超高实空系统、零部件及元器件的检漏。逆流氦质谱检漏仪改变了常规型仪器的布局结构,被检件置于检漏仪从抽泵的前级部位,因而具有可正在高压力下检漏、不消液氮及质谱室污染小等特点.合用于大漏率、实空卫生较差的实空系统的检漏,其活络度可达10-12Pam3/s。

  可见,当B和U为定值时,分歧质荷比me-1的离子束的偏转半径R分歧。仪器的B和R是固定的,调理加快电压U使氦离子束[图中(me-1)2]刚好通过出口裂缝S2,达到收集器D,构成离子流并由放大器放大。使其由输出表和声响反映出来;而分歧于氦质荷比的离子束[(me-1)1(me-1)3]因其偏转半径取仪器的R值分歧无法通过出口裂缝S2,所以被分手出来。(me-1)2=4,即He+的质荷比,除He+之外,C卅很少,可忽略。

  图4示出了双级900缩转式磁偏转型氦质谱检漏仪的质谱室。因为两次阐发,削减了非氦离子达到收集器的机率。而且,如正在两个阐发器的两头,即图中的两头裂缝S2取临近的挡板间设置加快电场,使离子正在进入第二个阐发器前再次被加快。那些取氦离子动量不异的非氦离子,虽然能够通过第一个阐发器,可是,经第二次加快进入第二个阐发器后,因为其动量取氦离子的分歧而被分手出来。因为二次分手,仪器本底及本底噪声显著地减小,提高了仪器活络度。

  氮质谱检漏仪是用氦气为示漏气体的特地用于检漏的仪器,它具有机能不变、活络度高的特点。是实空检漏手艺中活络度最高,用得最遍及的检漏仪器。

  正在离化室N内,气体电离成正离子,正在电场感化下离子聚焦成束。并正在加快电压感化下以必然的速度颠末加快极S1的裂缝进入阐发器。正在平均的感化下,具有必然速度的离子将按圆形轨迹活动,其偏转半径可按式(5)计较。

  逆流氦质谱检漏仪的布局特点如图5所示。该类仪器是按照油扩散泵或泵的压缩比取气体品种相关的道理制成的。例如,多级油扩散泵对氦气的压缩比为102;对空气中其它成分的压缩比为lO4~106。检漏时,通过被检件上漏孔进入从抽泵前级部位的氦气,仍有部门返流到质谱室中去,并由仪器的输出示出漏气讯号。这就是逆流氦顷质谱检漏仪的工做道理。

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  《天然气工业》是由中国石油天然气集团无限公司从管,四川石油办理局无限公司、中国石油天然气股份无限公司西南油气田分公司、中国石油集团川庆钻探工程无限公司结合从办的全面报道中国天然气工业的手艺使用类科技月刊……细致

  电子元器件正在利用之前都要进行密封测试,密封测试是通过检漏进行的。电子元器件的检漏分为细检漏和粗检漏。氟油具有优异的介电机能,化学惰性、优秀的电绝缘性以及耐凹凸温能力,对电子元器件无侵蚀,不影响电子元器件的各项机能参数,是常用的粗检漏介质。引见了几种氟油正在电子元器件粗检漏中的使用。

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中国电子学会元件分会、电子科技大学科学与工程学院配合协办

  《电子元件取材料》现由工业消息化部从管,成都宏明电子无限公司(国营715厂)取中国电子学会、中国电子元件行业协会配合从办,中国电子学会元件分会、电子科技大学电子科学取工程学院配合协办。本刊是国内电子元器件……细致

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处置法子:此为通信线接触不良

  光谱阐发仪无锡粗拙度仪又称分光仪,认知的为曲读光谱仪。以光电管等光探测器丈量谱线分歧波长强度的安拆。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个高端粗拙度仪出射狭缝构成。以色散元件将源的电磁分手出所需要的波长或波长区域,并正在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。光谱阐发仪是将成分复杂的光分化为光谱线的科学仪器,由棱镜或衍射光栅等形成,操纵光谱仪可丈量物体概况反射的光线。阳光中的七色能分的部门(可见光),但若通过光谱仪将阳光分化,按波长陈列,可见光只占光谱中很小的范畴,其余都是无法分辩的光谱,如微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光消息的抓取、以底片显影,或电脑化从动显示数值仪器显示和阐发,从而测知物品中含有何种元素。这种被使用于空气污染、水污染、食物卫生、金属工业等的检测中。光谱阐发仪次要参数:基体:Fe、Cu、Al、Ni、Ti、Co、Zn、Sn、Mg、Pb等。光学布局:帕邢-龙格罗兰圆全谱实空型光学系统。波长范畴:130-800nm。焦距:400mm。光栅刻。

  检测什么呢?这个问题也是很笼统,由于手持式光谱阐发仪,曲读光谱阐发仪,X射线荧谱阐发仪等等仪器都称光谱阐发仪,那我们具体引见下光谱阐发仪检测什么?1,手持式光谱阐发仪能够检测合金元素成分,矿石成分档次,土壤属测定,ROHS无害元素检测,含量检测,考古取艺术元素阐发等等使用,我们的是美国伊诺斯手持式光谱阐发仪,机能不变,不变性高,质量好,能够检测MG-U之间的元素。2,曲读光谱阐发仪使用于冶金、锻制、机械、金属加工等范畴的出产过程节制、尝试室成品检测,可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多种金属及其合金样品阐发。曲读光谱阐发仪现实中使用有两种挪动式曲读光谱仪和台式曲读光谱仪。3,X射线荧谱阐发仪有沉现性好,丈量速度快,敏度高的特点。能阐发B(5)~U(92)之间元素。样品能够是固体、粉末、熔融片,液体等,阐发对象合用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

  DELTAElement是Olympus手持式X射线荧光(XRF)阐发仪系列无锡粗拙度仪产物中的一款价钱廉价的阐发仪,能够供给粗拙度仪厂家阐发成果。检测利用便利且机能靠得住的DELTAElement阐发仪,具有DELTA系列产物的根基丈量功能取坚忍耐用的机身布局。DELTAElement正在对金属进行筛查、分拣和阐发时,能够敏捷分辨合金的ID商标,因而用户正在废料收受接管、材料成份分辨/质量节制,及珠宝/辨别的使用中能够很快获得投资报答。DELTAElement配备有X射线管和硅条带探测器,是完成简单使用的一款很是抱负的阐发仪。它能够对元素和金属进行分辨、筛查、分拣和阐发。DELTAElement不成对材料进行丈量并正在数秒之内得出成果,并且具有检出的切确性。合用于野外功课的DELTAElement具有坚忍耐用的机身布局,其橡胶面塑和合适人体工程学的把手能够阐发仪。为了削减停工时间,其热插拔功能可使阐发仪正在工做时换电池。DELTAElement拆有大区域散热器,合用于温度下的高功率检测操做。Olympus特色的商标婚配消息(GMM)功能所供给的消息简化了核查取操做过程。用户能够将自行定制的消息。

  手持式合谱无锡粗拙度仪阐发仪取正在线光谱正在成长,目前的光谱成长正正在进行着一场实践的斗争,正在线光谱也是该当要从从尝试室现场的操做了,他的荣耀该当绽放正在出产线和尝试场这些天然中,如许才能够高端粗拙度仪凸显出本人的价值。以往绝大部门光谱仪器操做都是都局限正在尝试室内,大都是将采来的材料样品颠末各样的化学还有物理尝试,从而查验出物质的物理还有化学的特征,然而正在尝试室的光谱仪都是比力笨沉的,很难能够拿到现正在进行操做如许话会给我们的良多问题带来诸多未便,可是良多工业的成长示正在很需要一种玲珑的光谱仪进行实地的操做。还有就是目前能正在线丈量取节制的变量只是局限正在温度、压力和流量这三和检测,现正在曾经不克不及如许的成长需求了,而对过程中化学成分和很多物性变量仍不克不及进行持续丈量,据伊诺斯手持式合金阐发仪发卖的同事阐发得出,这些变量倒是表征出产情况的主要至是决定性的目标参数,因此严沉影响了工业产物成品的产率和质量的及时监测;手持式合谱阐发仪正在监测中,反映变化的环节性变量的持续丈量也是很。

  曲读光谱阐发仪无锡粗拙度仪常见毛病及其响应处置法子由曲读光谱仪手艺员按照以往的经验总结分享如下:毛病一:新仪器电脑呈现死机,法式错误、黑屏、阐发软件的START形态不合错误有时变为不动,有时虽然高端粗拙度仪动可是变为红色,处置法子:此为通信线接触不良,从头毗连即可。毛病二:排气不畅毛病,氩气排气管堵塞,火花室下部的弯头内有异物,氩气过滤器入口端有异物。处置法子:换排气管,要换通明的塑料管,并按期对排气管进行吹扫。毛病三:温度偏高毛病处置法子:查抄仪器后盖电扇能否动弹,动弹能否矫捷。毛病四:实空泵不从动启动毛病,处置法子:先看泵油温度能否较低,从头断电后,手动启动实空泵,有时需搁浅一下,再试。毛病五:P、S不变性欠好,查抄实空泵能否被误关掉,实空光镜片能否需要清洗,一个欠好的光会导致错误的沉现性和阐发成果。处置法子:查抄实空泵及清洗镜片毛病六:实空值下降快毛病处置法子:看实空值曲线能否平缓,不然,有漏气的处所,查抄实空室实空盖密封性,换密封圈或对角紧固螺丝,毛病七:光强值下降。

与读数靠近的三次均匀值作为试验值

  12、正在进行试验的同时,宜绘制渗入坡降取渗流速度关系曲线。以渗入坡降为纵坐标,以渗流速度为横坐标,绘制正在双对数坐标纸上,需要时还可绘制渗流速度取时间关系曲线。按照曲线变化,及时调整每级水头的持续时间和水头的级差。

  6、试样正在中采用毛细管饱和法进行饱和。调理供水箱高度,使供水箱水位略高于试样底面,正在迟缓提拔供水箱,每提拔1㎝,应不变10min后正在提拔供水箱。随试样水位的上升,接通响应的测压管,待水溢出出水口为止,使试样充实浸湿饱和。此时各测压管水位应取出水口水位齐平。

  11、试验竣事后,水口,吸收试样上余水,察看试样变化,按照需要量测试样试后高度。加有荷载的试样应及时卸荷并不雅测回弹环境,卸下顶盖,吸收试样上余水,卸除上透水板。放尽仪器余水,拆除试样。按照需要,测试样试后颗粒级配。

  5、将每份称好的试样平均分层拆入量筒,用击实锤击实并达到要求的高度,对于风化石渣或者击碎的土料可采用振动加密法。

  9、 应察看试验过程中呈现的各类现象,如出水的混浊程度,气泡冒出,细颗粒跳动、挪动或被水流带出,土体悬浮,渗流量及测压管水位的变化等,并进行细致描述。当呈现临界坡降或坡降时,应及时调整坡降递增值。

  0.70,1.00,1.50,2.00,当前按1.00~2.00递增,当接近临界坡降时,渗入坡降递增值应酌量减小;当为流土形式时,数值可恰当增大。

  10、当试样发生或水头无法再继续添加时,即可竣事试验。对于只需进行渗入系数测定的渗入试验,可正在呈现临界坡降后,继续1~2级水头后竣事试验。

  水电水利工程粗粒土试验规程,试验方式采用渗入水流从下向上,合用于粗粒类土,用于测定粗粒土的渗入系数、干密度、孔隙率、渗入降坡,渗流流速等参数。

  7、 按照试样中的细粒含量,初步判断试样渗入变形的形式:当为管涌形式,渗入初始坡降宜为0.02~0.03,递增值为0.05,0.10,0.15,0.20,0.30,0.40,0.50,

  8、按上述逐次升高水头。每次升高水头后,应使出水口水流出流30min~60min,待水流不变后,测记各测压管水位并用量筒测读渗水量。每级水头下测读次数不该少于三次,每次测读时间间隔视渗水量大小而定,宜为10min~20min,同时测读进出口水的温度。当三次测读的水位及渗水量根基不变,即可提拔***一级水头。取读数接近的三次平均值做为试验值。对非管涌土,时间可恰当耽误。

  1、将下进水口取供水管相毗连,使充水,查抄仪器的各部件能否有堵塞和漏水等。查抄完毕,降低供水箱,使中水位取下透水板的下沿齐平。

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  4、试样宜分3~5层拆填,每层的级配应不异。拆填分层厚度:砂类土可为2㎝~3㎝;砾类土可为试样*大粒径的1.5~2倍。需要时可酌加相当于试样质量1%~2%的水,拌和平均后正在进行拆填。

公司以先辈的办理程度打造出承袭专业、诚信、双赢的经营目标

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  )检测,标定,并颁布标书的氦质谱检漏仪用的尺度漏孔(氦),及其他一些气体的尺度物,例如,六氟化硫,氢气,空气,二氧化碳等。

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